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SDIO高效测试方案
产品介绍
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SDIO高效测试方案
1.缩小测试空间 2.提高测试的稳定性 3.不会影响屏蔽箱隔离度。
规格特性
用SD-100 (80x50x12mm)取代一组传统SDIO的测试环境(PC, PCIe卡, 长软扁平电缆, SDIO转板)
可直接放入屏蔽箱, 完全避免传统环境的问题
不仅缩小测试空间,提高测试的稳定性,且不会影响屏蔽箱隔离度。
当然，我们并不仅仅是为了改善传统的测试环境，更是为了提升SDIO模块量产测试能力，甚至更容易的导入自动化。
产品规格
1.传统的SDIO测试环境,需要台式机搭配PCIe转mini PCIe的转接卡，以及较长的PCIe软扁平电缆和SDIO转换板
2.不仅影响测试稳定性,浪费空间,还破坏了屏蔽箱的隔离度,成为量产测试时的瓶颈。
3.SDIO界面的无线模块在物联网(IoT)的应用逐渐增加, 生产工厂对其功能测试的负担也明显增加。
我们的高效SDIO测试方案
1.用SD-100 (80x50x12mm)取代一组传统SDIO的测试环境(PC, PCIe卡, 长软扁平电缆, SDIO转板)
2.可直接放入屏蔽箱, 完全避免传统环境的问题
3.不仅缩小测试空间,提高测试的稳定性,且不会影响屏蔽箱隔离度。
4.当然，我们并不仅仅是为了改善传统的测试环境，更是为了提升SDIO模块量产测试能力，甚至更容易的导入自动化。
