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SDIO高效测试方案

产品介绍

SDIO高效测试方案

1.缩小测试空间 2.提高测试的稳定性 3.不会影响屏蔽箱隔离度。

规格特性

    用SD-100 (80x50x12mm)取代一组传统SDIO的测试环境(PC, PCIe卡, 长软扁平电缆, SDIO转板)

    可直接放入屏蔽箱, 完全避免传统环境的问题 

    不仅缩小测试空间,提高测试的稳定性,且不会影响屏蔽箱隔离度。

    当然,我们并不仅仅是为了改善传统的测试环境,更是为了提升SDIO模块量产测试能力,甚至更容易的导入自动化。

产品规格

1.传统的SDIO测试环境,需要台式机搭配PCIe转mini PCIe的转接卡,以及较长的PCIe软扁平电缆和SDIO转换板

2.不仅影响测试稳定性,浪费空间,还破坏了屏蔽箱的隔离度,成为量产测试时的瓶颈。

3.SDIO界面的无线模块在物联网(IoT)的应用逐渐增加, 生产工厂对其功能测试的负担也明显增加。


我们的高效SDIO测试方案


1.用SD-100 (80x50x12mm)取代一组传统SDIO的测试环境(PC, PCIe卡, 长软扁平电缆, SDIO转板)

2.可直接放入屏蔽箱, 完全避免传统环境的问题 

3.不仅缩小测试空间,提高测试的稳定性,且不会影响屏蔽箱隔离度。

4.当然,我们并不仅仅是为了改善传统的测试环境,更是为了提升SDIO模块量产测试能力,甚至更容易的导入自动化。